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高壓介質(zhì)損耗測試裝置原理

日期:2024-12-27 10:33
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摘要: 在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時,電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值...

在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時,電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖21所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號處理器運用數(shù)字化實時采集方法,通過矢量運算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,保證在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。

    能: 儀器變頻高壓輸出;檢測反接線試品電流;內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

 接線方法:插座中心連接紅色高壓線芯線;金屬外殼連接紅色高壓線屏           蔽層;正接法時芯線和屏蔽層都可以作加壓線對被試品高壓端加壓;反接法時只能用芯線對被試品高壓端加壓,若試品高壓端有屏蔽極(如高壓端的屏蔽環(huán)),則可將屏蔽層接于屏蔽極,無屏蔽極時屏蔽層懸空。

     意:· 在啟動測試的過程中此插座帶有高壓有觸電危險,優(yōu)良禁止觸碰高壓

             插座及與之相連的相關(guān)設(shè)備。

          · 用標(biāo)準(zhǔn)介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器檢測正接法精度時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連

             接介損器或標(biāo)準(zhǔn)電容器,否則暴露的芯線可能受到干擾引起誤差。

· 測試過程中應(yīng)保證插座中心紅色高壓線芯線與被試品高            壓端零電阻連接,否則可能引起測量結(jié)果的數(shù)據(jù)波動。



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